ОＫＩエンジニアリングは３月１１日と１２日に東京都有明のＴＦＴホールで開かれる「Car Testing Japan 2008」に車載コンポーネントのＥМＣ試験、車載品関連の信頼性・環境試験、車載向け電子部品・ＬＳＩの良品構造調査、車載向けリニアデバイスの評価サービスなどを展示提供する。
車載コンポーネントのＥМＣ試験ではＥＭＣ公的試験所認定サイト、車載対応新電波暗室で新サービスの車載関係のＥＭＣ測定(ＣＩＳＰＲ２５)と安全試験対応、設計支援をはじめ、総合的安全コンサルティングを提供。
車載品関連の信頼性・環境試験では自動車部品・電子部品から各種ユニット、空気中に浮遊する塵埃に対する耐塵性能の評価等。
車載向け電子部品・ＬＳＩの良品構造調査では部品の状態や欠陥の観察から、将来故障に至る危険性を推定するのが［良品解析］。その結果は、工程改良への反映にも応用される。その実施例として、ＬＳＩ・電子部品・プリント配線基板等の品質比較調査や様々な規格に対する合否判定を実施。デバイスを選定するための有望な手法の提案。
車載向けリニアデバイスの評価サービスではＷＴＳ－７００（リニアＩＣテスタ）によるＣＣＤやＣＭＯＳイメージセンサーなど、カーエレクトロニクスに欠かせない各種センサーの検査などを提供する。
